Test delle prese e dei contattori per il test finale
La stabilità dimensionale, la resistenza all’usura dovuta ai ripetuti cicli di test e la rigidità meccanica sono fondamentali per la durata e le prestazioni affidabili di questi componenti di precisione. Alcuni dispositivi devono funzionare anche in condizioni estreme di test tri-temp che vanno da -65°C a oltre 175°C, a seconda dell’ambiente di utilizzo finale del dispositivo. I materiali utilizzati in queste applicazioni di prova devono inoltre presentare un minimo di degassamento e di sfaldamento per ridurre al minimo la contaminazione dei chip testati. Man mano che il settore passa ai chip di nuova generazione e i progetti di circuiti integrati si spostano verso array più densi all’interno di vincoli di packaging più piccoli, queste richieste di prestazioni non fanno che aumentare.
Drake ha risposto ai requisiti sempre più severi per gli zoccoli e i nidi di prova dei semiconduttori sviluppando forme in polimeri ad altissime prestazioni eccezionalmente durevoli, forti e stabili, ideali per le prestazioni richieste in questa fase della produzione dei semiconduttori:
Torlon 5030 è una poliammide-immide rinforzata con il 30% di fibra di vetro che presenta un’elevata stabilità dimensionale con un tasso di espansione termica dimezzato rispetto ai gradi non rinforzati. Le sue fibre di vetro garantiscono una rigidità molto elevata a temperature elevate senza la conduttività associata alle fibre di carbonio. La sua resistenza allo scorrimento sotto carico al di sopra dei 150°C supera quella di tutti i polimeri ad altissime prestazioni utilizzati nelle applicazioni di test dei semiconduttori. Grazie alla resistenza alla compressione di 38KSI/ 260 MPa e all’intrinseca resistenza all’usura del PAI, Torlon 5030 resiste alla compressione e garantisce una lunga durata e un servizio affidabile nei pezzi finiti. Inoltre, consente di testare ad alta velocità i circuiti integrati nelle condizioni di test più severe, da temperature criogeniche a 250°C/ 482°F.
Il Torlon 4203L (designato anche 4203), un tipo pigmentato non rinforzato, consente una precisa spaziatura tra i fori e una lunga durata in condizioni di test criogenici nei nidi di chip. La sua resistenza e tenacità superano quelle del PEEK e delle poliimmidi a partire da condizioni criogeniche fino a 250°C/ 482°F.
Drake 4200 PAIDrake 4200 PAI, un tipo non rinforzato e non pigmentato, consente anche una precisa spaziatura tra i fori e una lunga durata in condizioni di test criogenici nei nidi di trucioli. A differenza del Torlon 4203L, però, il grado 4200 non contiene pigmenti TiO2 ed è preferito da alcuni operatori dell’industria dei semiconduttori per eliminare le tracce di contaminazione metallica da titanio e alluminio presenti nel grado pigmentato. La resistenza e la tenacità di Drake 4200 PAI superano anche quelle del PEEK e delle poliimmidi, a partire da condizioni criogeniche fino a 250°C/ 482°F.
